1. 目的：
供IPQC检验手机产品时，做到检验标准有据可依，外观检验得到统一而明确的判定标准，改进产品品质，防止不合格品的流出，以满足顾客的需求。 2. 范围：
本检验标准适用于公司要求手机PCBA的外观品质判定。
检验标准
PCBA通用外观检验规范
3. 职责权限：
3.1工程部(PIE、设备工程制作作业文件需依此标准为基础);
3.2生产部(作业员及炉后QC作业时负责此标准的执行);
3.3品质部(IPQC、QC、品质拉长负责此标准的执行鉴督，QE负责更新维护). 4.相关参考文件:
4.1. IPC-A-610D 电子组件可接受性标准。 4.2 BOM 4.3 ECN 4.3 工程图纸
4.4 手机PCBA检验标准 5. 作业内容： 5.1缺陷现象定义：
焊点接触角不良 角焊缝与焊盘图形端接头之间的浸润角度大于90°。 直立 短路(桥接) 空焊 假焊 冷焊 元器件的一端离开焊盘而向上斜立或直立。 两个或两个以上不应相连的焊点之间的焊料相连,或焊点的焊料与相邻的导线相连。 即元器件导脚与PCB焊点未通过焊锡连接。 元器件导脚与PCB焊点看似已连接，但实际未连接。 焊点处锡膏未完全溶化或未形成金属合金。 少锡(吃锡不足) 元器件端与PAD吃锡面积或高度未达到要求。 多锡(吃锡过多) 元器件端与PAD吃锡面积或高度超过要求。 焊点发黑 氧化 移位(偏位) 焊点发黑且没有光泽。 元器件、线路、PAD或焊点等表面已产生化学反应且有有色氧化物。 元件在焊盘的平面内横向（水平）、纵向（垂直）或旋转方向偏离预定位置（以元件的中心线和焊盘的中心线为基准）。 生效日期:2011-11-20 第 1 页 共 14 页
极性反(反向) 浮高 错件 多件 漏件 错位 开路（断路） 侧放(侧立) 反白(翻面) 锡珠 锡尖 气泡 上锡(爬锡) 锡裂 孔塞 破损 丝印模糊 脏污 划伤 变形 起泡(分层) 溢胶(胶多) 少胶 针孔(凹点) 毛边(披峰) 金手指杂质 金手指划伤
有极性的元件方向或极性与文件(BOM、ECN、元件位置图等)要求不符的放反。 元器件与PCB存在间隙或高度。 元器件规格、型号、参数、形体等要求与(BOM、样品、客户资料、等)不符。 依据BOM和ECN或样板等,不应帖装部品的位置或PCB上有多余的部品均为多件。 依据BOM和ECN或样板等,应帖装部品的位置或PCB上而未部品的均为少件。 元器件或元器件脚的位置移到其它PAD或脚的位置上。 PCB线路断开现象。 宽度及高度有差别的片状元件侧放。 元器件有区别的相对称的两个面互换位置(如：有丝印标识的面与无丝印标识的面上下颠倒面）,片状电阻常见。 元器件脚之间或PAD以外的地方的小锡点。 元器件焊点不平滑,且存拉尖状况。 焊点、元器件或PCB等内部有气泡。 元器件焊点吃锡高度超出要求高度。 焊点有裂开状况。 PCB插件孔或导通孔等被焊锡或其它阻塞。 元器件、板底、板面、铜箔、线路、通孔等,有裂纹或切断、损坏现象。 元器件或PCB的文字或丝印模糊或断划现象,无法识别或模糊不清。 板面不洁净,有异物或污渍等不良。 PCB或按键等划伤及铜箔裸露现象。 元器件或PCB本体或边角不在同一平面上或弯曲。 PCB或元器件与铜铂分层,且有间隙。 (红胶用量过多)或溢出要求范围。 (红胶用量过少)或未达到要求范围。 PCB、PAD、焊点等有针孔凹点。 PCB板边或毛刺超出要求范围或长度。 金手指镀层表面有麻点、锡点或防焊油等异常。 金手指镀层表面有划过痕迹或裸露铜铂。
5.2缺陷级别定义：
Defect Classification 缺陷级别定义 Cri: Critical 对使用者的人身及财产安全构成威胁的致命缺陷。 Defect 产品存在以下六种缺陷，为主要缺陷。 1、功能缺陷影响正常使用。 2、性能参数超出规格标准。 Maj: Major 3、漏元件、配件及主要标识。 Defect 4、多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品。 5、包装存在可能影响产品形象的缺陷。 6、结构及外观方面存在让一般顾客难以接受的严重缺陷。 Min: Minor 上述缺陷以外的其它不影响产品使用的缺陷。 Defect Acc: Acceptable 可以接受的缺陷，在评价时使用，出厂检查仅供参考。 Defect 备注： 所有检验标准的使用，必须保证在对其它的工序没有影响的情况为前提，一个问题出现多种不良因素存在时，以最严重(致命缺陷)为主，另外判定时，一个重缺陷等同两个轻缺陷 5.3代码与定义：
代码 N L W C 5.4专业名词定义： 英文 SMT PCB BOM SIP ACC Maj LCR 5.5关于工具的定义：
名称 数目 长度(mm) 宽度(mm) 高度（mm） 代码 D H S Kg 名称 直径(mm) 距离(mm) 面积（mm2） 重量(千克) 中文 表面贴装技术 电路板 物料清单 检验指导书 允收 主要缺陷 电桥测试仪 英文 PCBA PAD ECN SOP Cri Min X-Ray 中文 已贴装元件PCB 焊盘 工程变更通知单 作业指导书 致命缺陷 次要缺陷 X光透视测试仪
菲林尺：为透明的PVC测试工具，用于识别点及线的大小缺陷判定。
塞 规：为金属片状测试工具，用于缝隙大小的测试，也称厚溥规。 游标卡尺：用于物体尺寸的测量。
LCR(LCZ)：用于测试电阻、电容、电感的阻值、容值、感值的测试仪器。 万用表：用于测量元器件的电压、电流及导通状态的仪器。 X-Ray：通过X光穿过物体，能够观察物体内部结构的测试仪器。
放大镜(显微镜)：用于对所观察物体进行放大倍数，便于人眼识别的检验仪器。 推力计：用于对测试元器件所能存受的力度的仪器。 5.6检验要求： 1.检验的环境及方法：
a) 距离：人眼与被测物表面的距离为300±50mm。 b) 时间：每片检查时间不超过12s。
c) 位置：检视面与桌面成45°；上下左右转动15°。
d) 照明：40W冷白荧光灯，光源距被测物表面500～550mm （照度达500～800Lux）。 2.检验前准备：
a)检验前需先确认所使用工作平台清洁及配戴清洁手套；
b)ESD防护：凡接触PCBA必需配戴良好的静电防护措施(配戴防静电手环并接上静电接地线)。
3.PCBA持握的方法：正确的拿板作业姿势,在EOS/ESD护防的条件下,并戴干净的手套握持PCBA(如下图)，看板时板平面与眼睛存45°角，距离20~30CM，并注意转换方向，看到焊接的每一个面。
5.7相关不良检验图片及说细标准说明参见下图:
示图 短路 不良定义 目检技巧及判定标准 多发生在细间距的元件相引脚及相邻元件上。焊锡堆积，目检时上下左右四个方向倾斜45度PCBA容易发现。 判定标准： 所有非连接导通电路的短路均判拒收 非连接导通电路有焊锡相连状态短路
侧立多发生在chip类电阻上，元件高度会高于旁边同类元件，且正常贴装上表面为黑色，侧立不良的上表面多为白色。 判定标准： 所有侧立均判拒收 侧立 元件焊接端未有效贴装，呈侧面贴装状态 立碑 立碑多发生在chip电元件高度会 阻电容上， 因回焊拉力导致元件明显高于旁边同类元未有效焊接，呈墓碑状 件 判定标准： 所有侧立均判拒收 多件 多件的检查可关注PCB非焊盘区域，主要是板中间区域和相邻焊接元件的间隙处 判定标准： 所有多件均判拒收 假焊(功能元件) 多发生在细间距的元件引脚、卡座固定脚及chip元件上。多因材料本身变形或焊锡润湿不足所致。目检时上下左右四个方向倾斜45度PCBA确认。 判定标准： 所有需连接导通电路、起固定作用的元件假焊均判拒收. BOM不要求贴料的位置有元件，或同一位置有一个以上物料 元件焊接端未与PCB焊盘有效焊接，存在间隙或呈不固定状态
假焊(屏蔽框) 判定标准： 屏蔽框底部焊接端未单条边假焊，但假焊长与PCB焊盘有效焊接，度不超过相应边长的存在间隙並呈不固定25%,其它三条边焊接状态 OK可接收 冷焊 元件脚金属部分与焊点焊接牢固,锡膏未完判定标准：所有冷焊均拒收 全溶化且未形成合金焊,焊点颜色成灰暗色。 爬锡 元件脚或Pin针与PAD间的焊锡爬锡高度已超过零件本体高度或Pin脚高度的2/3,焊锡已将元件脚覆盖,吃锡过多状况。 反向(极性元件、屏蔽框、SIM卡座) 元件贴装极性点未和PCB极性标识点/丝印图标识点对应 上锡 非上锡区域（按键、金点对点、缺口对缺口匹配原则，PCB无点则参考样板或丝印图。 判定标准： 所有反向均判拒收 上锡绝大多数发生在判定标准：拒收
手指、听筒区、马达、按键等面积较大的镀天线等金面区）有上锡 金区，呈点状或片状分布 判定标准： 按键、金手指、听筒区、马达、天线区不可上锡，其它区域可允许直径0.5mm的锡点，点数小于2个且無凸点。 损件会有元件本体残留在焊盘上，多发生在板边缘区域、测试夹具测试接触区、LED灯区，视PCB的結构而定 判定标准： 损件 已焊接完成元件受到外力撞击导致损件或元件破裂 偏位(片式元件) 所有损件均判拒收 判定标准： 1.片式元件、晶体管类元件侧面偏移A大于元件焊接端或焊盘宽度W的50% 2.元件末端偏移 元件贴装位置未和焊盘重合，有偏移 浮高 以上有任一情況均判拒收 判定标准：目视或用塞元器件与PCB存在间规量测超过0.2MM的隙或高度超过0.3mm。 拒收 偏位(IC/卡座/USB/电池座)
元件贴装位置未和焊判定标准：