M3测量顺序

以下述方式进行M3测量： ? ? ?

在样品池中进行快速电场变换测量。这测得到精确的平均值。

进行慢速电场变换测量。这得到更好的分辨率，但迁移率值由于电渗效应有所漂移。 从FFR和SFR测量计算平均Zeta电位减去了电渗流动的影响。 此值用于纠正慢速电场变换的误差。 ?

电渗值用于计算样品池壁的Zeta电位。

M3的优点

使用M3，简化了全部Zeta电位测量。对操作者来说，不再需要为测量选择系统参数，因为适当的设置成为计算在M3顺序的一部分。随着测量变量数减少，测量可重复性和准确性均得到改善。 另外，测量位置不再是一个问题，因为不需要关心稳定层的位置。 如今M3与PALS测量已经结合应用。

添加PALS和什么是PALS？

PALS（相位分析光散射）是对传统激光多普勒测速法和M3法的更进一步改良。

总之，PALS的应用改善了低迁移率粒子的测量准确性。 这使性能比相关的标准测量技术增加100倍。

这允许测量较高电导率样品，并可能精确测量较低迁移率的粒子样品。现在应用较低电压可以避免由于焦耳加热对样品引起风险。

PALS如何工作？

相对于多普勒频移检测由粒子运动产生的散射光频率移动，相位分析光散射检测相位的移动。相位信息包含在运动粒子的散射光中，相位的移动正比于粒子移动的速度。将粒子散射光的相与参考光的相比较，可测量这种相位移动。一个分光器用于从原始激光束分出一束较弱的激光，用作参比光。

信号的相分析可以被精确地测量，即使存在不是电泳引起的其它效应，如焦耳热引起的热漂移。 这是因为，电场应用导致的相位移动形式是已知的，所以可以分离不同的效应。

由于实施M3测试，电渗影响并不显著，两相之间的差异是稳定的，所以如果有任何粒子运动，那么这种相关系即改变。对迁移率变化来说，监测相移比传统的监测频率漂移更为灵敏。

通过综合测量的FFR部分中的相漂移，于是可测定电泳迁移率和随之的Zeta电位。

Zetasizer Nano操作 — Zeta电位测量

与粒径理论一章中说明的典型DLS系统类似，Zeta电位测量系统由6个主要部件组成。 首先，激光器①用于提供照样品中粒子的光源；对Zeta电位测量来说，将这种光源分成两束，以提供入射光和参考光。参考光可以被调制，以提供必要的多普勒效应。

激光束穿过样品样品池②的中心，在17°角度检测散射。将样品池插入样品池架时，样品池终端允许系统识别配置的Zeta电位样品池，并设置软件使用正确的测量顺序。

当电场施加于样品池时，通过测量运动的粒子引起的光强的波动来检测散射光的频率，散射光频率的移动与粒子移动速度成比例。

检测器③将这个信息传送到数字信号处理器④。再将信息传递到计算机⑤，由Zetasizer Nano软件生成频谱，从频谱可计算电泳迁移率及Zeta电位信息。

样品池内的散射光强度必须在检测器的特定范围，以便成功进行测量。如果监测到太多的光，那么检测器可能会过载。为克服这个问题，使用一个“衰减器⑥”，降低激光强度并因此降低散射光的强度。

对散射较弱的样品，如极小粒子或较低浓度样品，必须增加散射光量。衰减器将自动让更多光通过样品。

对散射较强的样品，如大颗粒或较高浓度样品，必须降低散射光量。衰减器将自动降低通过样品的光量。

在散射光光路上安装光学补偿装置⑦以改正样品池壁厚度和分散剂折射所造成的任何差异。

通用插入式样品池

当通用插入式样品池插入样品池架时，样品池终端允许系统识别所配置的样品池类型，并相应调节所应用的电压和光学补偿。

除未使用的FFR测量外，测量步骤与弯曲式毛细管样品池的相同。插入式样品池中的测量电极仅间隔2mm。这排除了电渗效应，因此也不需要FFR部分的常规测量。