分享下无损检测超声波检测二级试题库4(UT)(含答案) - 图文 下载本文

5.3 下面关于钢板探伤的叙述,哪一条是正确的:( ) A、若出现缺陷波的多次反射,缺陷尺寸一定很大 B、无底波时,说明钢板无缺陷

C、钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定 D、钢板探伤应尽量采用低频率

5.4 钢板厚为30mm,用水浸法探伤,当水层厚度为l5mm时,则第三次底面回波显示于( ) A、二次界面回波之前 B、二次界面回波之后 C、一次界面回波之前 D、不一定

5.5 复合材料探伤,由于两介质声阻抗不同,在界面处有回波出现,为了检查复合层结合质量,下面哪条叙述是正确的:( )

A、两介质声阻抗接近,界面回波小,不易检查 B、两介质声阻抗接近,界面回波大,容易检查 C、两介质声阻抗差别大,界面回波大,不易检查 D、两介质声阻抗差别大,界面回波小,容易检查

5.6 探测厚度为18mm的钢板,在探伤波形上出现了“叠加效应”,问哪一种说法是正确的:( ) A、同大于20mm的厚钢板一样,按F1评价缺陷 B、因为板厚小于20mm,按F2评价缺陷 C、按最大缺陷回波评价缺陷 D、必须降低灵敏度重新探伤 5.7 探测T=28mm的钢板,荧光屏上出现“叠加效应”的波形,下面哪种评定缺陷的方法是正确的?( ) A、接缺陷第一次回波(Fl)评定缺陷 B、按缺陷第二次回波(F2)评定缺陷 C、按缺陷多次回波中最大值评定缺陷 D、以上都可以

5.8 下面有关“叠加效应”的叙述中,哪点是正确的( ) A、叠加效应是波型转换时产生的现象 B、叠加效应是幻象波的一种

C、叠加效应是钢板底波多次反射时可看到的现象 D、叠加效应是探伤频率过高而引起的 5.9 带堆焊层工件中的缺陷有:( )

A、堆焊金属中的缺陷 B、堆焊层与母材间的脱层

C、堆焊层下母材热影响区的再热裂纹 D、以上三种都有

5.10 用水浸聚焦探头局部水浸法检验钢板时,声束进入工件后将( ) A、因折射而发散 B、进一步集聚 C、保持原聚焦状况 D、以上都能 5.11 无缝钢管缺陷分布的方向有;( )

A、平行于钢管轴线的径向分布 B、垂直于钢管轴线的径向分布 C、平行于钢管表面的层状分布 D、以上都可能 5.12 小口径钢管超探时探头布置方向为:( ) A、使超声沿周向射入工件以探测纵向缺陷 B、使超声沿轴向射入工件以探测横向缺陷 C、以上二者都有 D、以上二者都没有

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5.13 小口径无缝钢管探伤中多用聚焦探头,其主要目的是:( ) A、克服表面曲率引起超声散焦 B、提高探伤效率 C、提高探伤灵敏度 D、以上都对

5.14 钢管原材料超探试样中的参考反射体是:( ) A、横孔 B、平底孔 C、槽 D、竖孔

5.15 管材横波接触法探伤时,入射角的允许范围与哪一因素有关( ) A、探头楔块中的纵波声速 B、管材中的纵横波声速 C、管子的规格 D、以上全部

5.16 管材周向斜角探伤与板材斜角探伤显著不同的地方是( ) A、内表面入射角等于折射角 B、内表面入射角小于折射角 C、内表面入射角大雨折射角 D、以上都可能

5.17 管材水漫法探伤中,偏心距x与入射角α的关系是( )。 (rR为管材的内外半径)

5.18 管材自动探伤设备中,探头与管材相对运动的形式是( ) A、探头旋转,管材直线前进 B、探头静止,管材螺旋前进 C、管材旋转,探头直线移动 D、以上均可

5.19 下面有关钢管水浸探伤的叙述中,哪点是错误的( ) A、使用水浸式纵波探头 B、探头偏离管材中心线 C、无缺陷时,荧光屏上只显示始波和l~2次底波 D、水层距离应大于钢中一次波声程的1/2

5.10 钢管水浸聚焦法探伤中,下面有关点聚焦方法的叙述中,哪条是错误的?( ) A、对短缺陷有较高探测灵敏度 B、聚焦方法一般采用圆柱面声透镜 C、缺陷长度达到一定尺寸后,回波幅度不随长度而变化 D、探伤速度较慢

5.21 钢管水浸聚焦法探伤时,下面有关线聚焦方式的叙述中,哪条是正确的?( ) A、探伤速度轻快 B、回波幅度随缺陷长度增大而增高 C、聚焦方法一般采用圆柱面透镜或瓦片型晶片 D、以上全部

5.22 使用聚焦探头对管材探伤,如聚焦点未调到与声束中心线相垂直的管半径上,且偏差较大距离,则会引起( )

A、盲区增大 B、在管中折射发散 C、多种波型传播 D、同波脉冲变宽 6.1 锻件的锻造过程包括:( )

A、加热形变,成型和冷却 B、加热,形变 C、形变,成型 D、以上都不全面 6.2 锻件缺陷包括:( )

A、原材料缺陷 B、锻造缺陷 C、热处理缺路 D、以上都有 6.3 锻件中的粗大晶粒可能引起:( ) A、底波降低或消失 B、噪声或杂波增大

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C、超声严重衰减 D、以上都有

6.4 锻件中的白点是在锻造过程中哪个阶段形成:( ) A、加热 B、形变 C、成型 D、冷却 6.5 轴类锻件最主要探测方向是:( ) A、轴向直探头探伤 B、径向直探头探伤

C、斜探头外圆面轴向探伤 D、斜探头外圆面周向探伤 6.6 饼类锻件最主要探测方向是:( ) A、直探头端面探伤 B、直探头翻面探伤 C、斜探头端面探伤 D、斜探头侧面探伤 6.7 筒形锻件最主要探测方向是:( )

A、直探头端面和外圆面探伤 B、直探头外圆面轴向探伤 C、斜探头外四面周向探伤 D、以上都是 6.8 锻件中非金属夹杂物的取向最可能的是:( ) A、与主轴线平行 B、与锻造方向一致

C、占锻件金属流线一致 D、与锻件金属流线垂直

6.9 超声波经液体进入具有弯曲表面工件时,声束在工件内将会产生:( ) A、与液体中相同的声束传播 B、不受零件几何形状的影响 C、凹圆弧面声波将收敛,凸圆弧面卢波将发散 D、与C的情况相反

6.10 锻钢件探测灵敏度的校正方式是:( ) A、没有特定的方式 B、采用底波方式

C、采用试块方式 D、采用底波方式和试块方式 6.11 以工件底面作为灵敏度校正基准,可以:( )

A、不考虑探测面的耦合差补偿 B、不考虑材质衰减差补偿 C、不必使用校正试块 D、以上都是

6.12 在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时,如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔 度,底波调整后应提高多少db探伤?(晶片直径D=14mm)( ) A、36.5db B、43.5db C、50db D、28.5db

6.13 在直探头探伤,用2.5MHz探头,调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量 度10。如果改用5MHz直探头,仪器所有旋纽保持不变,则200mm底波出现在 ( )

A、刻度5处 B、越出荧光屏外

C、仍在刻度10处 D、须视具体情况而定

6.14 化学成份相同,厚度相同,以下哪一类工件超声波衰减最大( ) A、钢板 B、钢管 C、锻钢件 D、铸钢件 6.15 通用AVG曲线的通用性表现在可适用于:( ) A、不同的探测频率 B、不同的晶片尺寸

C、不同示波屏尺寸的A型探伤仪 D、以上都是 6.16 大型铸件应用超声波探伤检查的主要困难是:( ) A、组织不均匀 B、晶粒非常粗 C、表面非常粗糙 D、以上都对

6.17 锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:( )

A、无底面回波或底面回波降低 B、难以发现平行探测面的缺陷

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C、声波穿透能力下降 D、缺陷同波受底面回波影响 6.18 利用试块法校正探伤灵敏度的优点是:( )

A、校正方法简单 B、对大于3N和小于3N的锻件都?

C、可以克服探伤面形状对灵敏度的影响 D、不必考虑材质差异 6.19 下列哪种方法可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力:( ) A、用直径较大的探头进行检验 B、在细化晶粒的热处理后检验 C、将接触法探伤改为液浸法探伤 D、将纵波探伤改为横波探伤 6.20 以下有关锻件白点缺陷的叙述,哪一条是错误的( )

A、白点是一种非金属夹杂物 B、白点通常发生在锻件中心部位 C、白点的回波清晰尖锐往往有多个波峰同时出现 D、一旦判断是白点缺陷,该锻件即为不合格

6.21 在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声 ( )

A、大于非扩散区 B、大于近场区 C、人于3倍近场区 D、无甚要求 6.22 锻件超声波探伤时机应选样( )

A、热处理前孔槽台阶加工前 B、热处理后孔曹台阶加工前 C、热处理前孔槽台阶加工后 D、热处理孔槽台阶加工后 6.23 钢锻件探伤中,超声波的衰减主要取决于( ) A、材料的表面状态 B、材料晶粒度的影响 C、材料的几何形状 D、材料对声波的吸收

6.24 下面有关用试块法调节锻件探伤灵敏度的叙述中,哪点是正确的。( ) A、对厚薄锻件都适用 B、对平面和曲面锻件都适用 C、应作耦合及衰减差补偿 D、以上全部

6.25 用底波法调节锻件探伤灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的?( )A、可不考虑探伤耦合差补偿

B、缺陷定量可采用计算法或A.V.C曲线法 C、可不使用试块

D、缺陷定量可不考虑材质衰减差修正

6.26 用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有( ) A、底面与探伤面不平行 B、工件内部有倾斜的大缺陷 C、工件内部有材质衰减大的部位 D、以上全部

6.27 锻件探伤中,如果材料的晶粒粗大,通常会引起( ) A、底波降低或消失 B、有较高的“噪声”显示 C、使声波穿透力降低 D、以上全部

6.28 铸钢件超声波探伤频率一般选择( )

A、0.5-2.5MHZ B、1-5MHZ C、2.5-5MHZD D、5-10MHZ 6.29 锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波( ) A、边缘效应 B、工件形状及外形轮廓 C、缺陷形状和取向 D、以上全部

6.30 锻件探伤时.如果用试块比较法对缺陷定量对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会(A、大于当量尺寸 B、等于当量尺寸 C、小于当量尺寸 D、以上都可能

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