信号完整性研发测试攻略2.0 - 图文

图8.4

(7) 对于SDIN信号,录音,用两个单端探头在codec端分别探BTLOCK、SDIN信号测

试点,重复(4)、(5)(6)操作。

9. DDR2 Test

9.1 Clock

测试设备: 带宽高于5倍被测信号的Tek示波器,两个差分探头,一个单端探头,鼠标,键盘。 测试内容:

High Time/Low Time(tCH、tCL)、Period(tCK)、Cycle to Cycle Jitter

测试原理:

High Time

Low Time

Period

测试步骤:

(1) 开启示波器预热,打开DDR测试软件,连接差分探头,鼠标和键盘。

(2) 通过使用Allegro SPB软件,在电路板上找出DDR接收端时钟信号的测试点。

(3) 接上显示屏,将示波器和电路板共地,开启电路板,运行SPEEDY软件。从测试软

件的菜单选项中选择测试项目CLOCK和测试内容tCH、tCL、tCK、cycle to cycle jitter。

(4) 用一个差分探头点测试点,调试示波器,直到出现需要波形,然后点击运行,示

波器自动抓图、分析数据并生成测试报告。

(5) 查看测试报告数据,并与SPACE比较,最后保存测试报告。

9.2 Write

测试设备:

带宽高于5倍被测信号的Tek示波器,两个差分探头,一个单端探头,鼠标,键盘。

测试内容:

① DQ的建立保持时间tDS与tDH ② DQS与CK的时序tDQSS,tDSS,tDSH 测试原理:

tDS与tDH

tDQSS

tDSS

tDSH

测试步骤:

(1) 开启示波器预热,打开DDR测试软件,连接两个差分探头,一个单端探头,鼠标

和键盘,并校准三个通道。

(2) 通过使用Allegro SPB软件,在电路板上找出DDR接收端时钟信号、DQS信号和

DQ信号的测试点。

(3) 接上显示屏,将示波器和电路板共地,开启电路板,运行SPEEDY软件。从测试软

件的菜单选项中选择测试项目WRITE和测试内容tDS、tDH、tDQSS、tDSS、tDSH。

(4) 分别用两个差分探头点差分信号CLOCK、DQS,用一个单端探头点DQS 对应的DQ,

调节示波器,直到出现需要的波形,然后点击运行,示波器自动抓图、分析数据并生成测试报告。

(5) 查看测试报告数据,并与SPACE比较,最后保存测试报告。 (6) 选择其他要测试的点,重复以上(4)、(5)操作。

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